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第1章 衍射计算中常用的晶体学表示方法 1

1.1 晶系 1

1.2 晶体的对称性 1

1.3 点群（对称类型） 5

1.4 布拉格点阵 8

1.5 空间群 10

第2章 X射线物理基础 12

2.1 X射线的产生及性质 12

2.2 X射线衍射原理 27

2.3 倒易矢量、倒易点阵及反射球 31

2.4 粉晶X射线衍射 37

第3章 X射线衍射方法 41

3.1 粉晶衍射仪法 43

3.2 其他X射线衍射仪 55

第4章 X射线衍射数据 68

4.1 衍射峰位的确定方法 68

4.2 衍射线峰形 70

4.3 X射线衍射强度 73

4.4 衍射线分离 89

第5章 计算机在多晶体衍射中的应用 90

5.1 实验谱的基本处理 90

5.2 实验数据的分析与应用 102

5.3 相关机构、网站、数据库 104

第6章 X射线物相分析 107

6.1 定性相分析 107

6.2 定量相分析 129

第7章 X射线的小角度散射 150

7.1 X射线小角度散射原理 150

7.2 X射线小角度散射实验 155

7.3 X射线小角度散射的应用 157

第8章 晶体点阵常数的精确测量 159

8.1 原理 159

8.2 德拜-谢乐法的系统误差 161

8.3 衍射仪法的主要误差 164

8.4 晶体点阵常数的精确测定 167

8.5 非立方晶系晶体点阵常数的精确测定 176

8.6 应用同步辐射源 179

第9章 材料结晶度的计算 181

9.1 无机矿物结晶度测定方法 181

9.2 聚合物材料结晶度 185

9.3 晶体粒度大小及比表面积的测定 198

第10章 宏观应力的测定 202

10.1 弹性应力和应变的关系 203

10.2 X射线测定表面应力 204

10.3 应用衍射仪测定应力的方法 208

10.4 X射线应力测量举例及若干实际问题 213

第11章 X射线衍射结构分析的Rietveld法 217

11.1 Rietveld法概述 217

11.2 Rietveld法的基本原理 218

11.3 Rietveld法修正晶体结构策略 218

11.4 修正过程常出现的问题和对策 224

11.5 Rietveld法的应用 226

第12章 X射线多晶体衍射的应用实例 230

12.1 冶金和机械工业 231

12.2 地球和采矿工业 234

12.3 生物和医药工业 238

12.4 能源 240

12.5 陶瓷和建材工业 242

12.6 功能材料、玻璃 247

12.7 复合材料物相鉴定 252

12.8 粉末晶体结构分析 255

12.9 晶粒度及晶格应变的测定 258

参考文献 262

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