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VLSI测试方法学和可测性设计
雷绍充,邵志标,梁峰著2005 年出版286 页ISBN:7121003791本书系统介绍超大规模集成电路(VLSI)的测试方法学和的可测性设计,为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础,也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个.....
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