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数字集成电路测试优化
李晓维，韩银和，胡瑜等著2010 年出版344 页ISBN：9787030278944本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理,激励压缩的有效方法,测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理,静态测...
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数字专用集成电路的设计与验证
杨宗凯等编著2004 年出版288 页ISBN：7121003783本书共分7章，详细地介绍了数字专用集成电路的开发流程。具体包括VerilogHDL硬件描述语言、ASIC前端设计、ASIC前端验证、逻辑综合、可测性技术和后端验证。本书的另一大特色就是将超大规模数字集成电路常用...
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