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材料分析方法  第2版

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工业技术

  • 购买点数:12
  • 作 者:周玉主编
  • 出 版 社:北京:机械工业出版社
  • 出版年份:2006
  • ISBN:7111075951
  • 标注页数:332 页
  • PDF页数:345 页
图书介绍:《材料分析方法》主要包括X射线衍射分析、电子显薇分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、多晶体织构的测定、透射电镜结构与原理、电子衍射、衍衬成像、衍射动力学、高分辨透射电子显微术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、场离子显微镜与原子探针扫描隧道与原子力显微镜及X射线光电子能谱仪等显微分析与原子探针扫描隧道与原实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。

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图书介绍

第1版前言 1

绪论 1

第2版前言 1

第一篇 材料X射线衍射分析 5

第一章 X射线物理学基础 6

第一节 X射线的性质 6

第二节 X射线的产生及X射线谱 7

第三节 X射线与物质的相互作用 11

习题 18

第二章 X射线衍射方向 19

第一节 晶体几何学简介 19

第二节 布拉格方程 25

第三节 X射线衍射方法 29

习题 31

第一节 多晶体衍射图相的形成 32

第三章 X射线衍射强度 32

第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数 33

第三节 洛伦兹因数 36

第四节 影响衍射强度的其他因数 38

第五节 多晶体衍射的积分强度公式 40

习题 41

第四章 多晶体分析方法 42

第一节 德拜-谢乐法 42

第二节 其他照相法简介 48

第三节 X射线衍射仪 50

习题 58

第五章 物相分析及点阵参数精确测定 59

第一节 定性分析 59

第二节 定量分析 64

第三节 点阵参数的精确测定 67

第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析 72

习题 77

第六章 宏观残余应力的测定 79

第一节 物体内应力的产生与分类 79

第二节 X射线宏观应力测定的基本原理 81

第三节 宏观应力测定方法 84

第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题 89

习题 94

第七章 多晶体织构的测定 95

第一节 极射赤面投影法 95

第二节 织构的种类和表示方法 100

第三节 丝织构指数的测定 107

第四节 极图的测定 109

第五节 反极图的测定 114

习题 116

第二篇 材料电子显微分析 119

第八章 电子光学基础 120

第一节 电子波与电磁透镜 120

第二节 电磁透镜的像差与分辨率 123

第三节 电磁透镜的景深和焦长 127

习题 129

第九章 透射电子显微镜 130

第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理 130

第二节 主要部件的结构与工作原理 135

第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定 139

习题 140

第十章 电子衍射 142

第一节 概述 142

第二节 电子衍射原理 143

第三节 电子显微镜中的电子衍射 154

第四节 单晶体电子衍射花样标定 157

第五节 复杂电子衍射花样 160

习题 164

第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析 165

第一节 概述 165

第二节 薄膜样品的制备方法 165

第三节 衍射衬度成像原理 168

第四节 消光距离 171

第五节 衍衬运动学 173

第六节 衍衬动力学简介 181

第七节 晶体缺陷分析 184

习题 194

第十二章 高分辨透射电子显微术 195

第一节 高分辨透射电镜的结构特征 195

第二节 高分辨电子显微像的原理 197

第三节 高分辨透射电镜在材料科学中的应用 207

习题 215

第十三章 扫描电子显微镜 216

第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号 216

第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理 219

第三节 扫描电子显微镜的主要性能 221

第四节 表面形貌衬度原理及其应用 223

第五节 原子序数衬度原理及其应用 229

第六节 背散射电子衍射分析及其应用 232

习题 238

第十四章 电子探针显微分析 239

第一节 电子探针仪的结构与工作原理 239

第二节 电子探针仪的分析方法及应用 244

习题 246

第十五章 其他显微分析方法 248

第一节 离子探针显微分析 248

第二节 低能电子衍射分析 251

第三节 俄歇电子能谱分析 255

第四节 场离子显微镜与原子探针 261

第五节 扫描隧道显微镜与原子力显微镜 268

第六节 X射线光电子能谱分析 275

习题 278

实验指导 279

实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算 279

实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析 280

实验三 宏观残余应力的测定 285

实验四 金属板织构的测定 290

实验五 透射电镜结构原理及明暗场成像 293

实验六 选区电子衍射与晶体取向分析 297

实验七 扫描电镜的结构原理及图像衬度观察 303

实验八 电子探针结构原理及分析方法 308

附录B 质量吸收系数μl/ρ 312

附录 312

附录A 物理常数 312

附录C 原子散射因数f 313

附录D 各种点阵的结构因数F? 314

附录E 粉末法的多重性因数Phkl 314

附录F 角因数? 315

附录G 德拜函数?+?之值 317

附录H 某些物质的特征温度? 317

附录I ?(?+?)的数值 318

附录J 应力测定常数 320

附录K 立方系晶面间夹角 321

附录L 常见晶体标准电子衍射花样 324

附录M 立方与六方晶体可能出现的反射 328

附录N 特征X射线的波长和能量表 329

参考文献 331

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