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《数字系统测试和可测试性设计》PDF电子版
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作 者:
(美)塞纳拉伯丁·纳瓦比(ZAINALABEDINNAVABI)著
贺海文
唐威昀译
出 版 社:北京:机械工业出版社
出版年份:2015
ISBN:9787111501541
标注页数:370 页
PDF页数:387页
MD5值:168ed9ebaf71ef3b37bf23db59a5ade7
图书介绍:这本书论述了数字系统测试和可测性设计,它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用,这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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