图书介绍：本书对系统芯片SoC的设计与测试技术进行了全面阐述。全书共分为16章，主要内容包括：系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、IP芯核的设计、软/硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片的低功耗耗设计、系统芯片的验证、系统芯片的物理设计、系统芯片的可测性设计、信号完整性、数字逻辑芯核的测试、模拟与混合信号芯核的测试、嵌入式存储器的测试、测试调度与测试结构的优化设计、系统芯片设计实例：多媒体IP芯核、网络芯片（NoC）。本书不仅介绍了系统芯片的设计与测试领域的最新发展，同时也包括了作者多年来的科研工作成果。