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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
(美国)桑迪普K.戈埃尔,(印度)科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编;续海涛等译2016 年出版191 页ISBN:9787111521846设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路(IC)的高复杂度和纳米尺度特征极易使其在制造过程中产生缺陷,同时也会引发性能和质量问题。本书包含了测试领域的许多常见问题,比如制程偏...
设计方法和工艺技术的革新使得集成电路的复杂度持续增加。现代集成电路(IC)的高复杂度和纳米尺度特征极易使其在制造过程中产生缺陷,同时也会引发性能和质量问题。本书包含了测试领域的许多常见问题,比如制程偏...