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互换性与测量技术基础
高丽,于涛,杨俊茹主编;李桂莉,王全为,孙静,苏春建副主编2012 年出版196 页ISBN:9787118078817本书分为绪论,测量技术基础,尺寸的公差、配合与检测,几何公差与检测,表面粗糙度与检测,圆锥和角度公差与检测,尺寸链基础,光滑极限量规设计,常用结合件的公差与检测,渐开线圆柱齿轮传动公差与检测等共11章。...
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